Метрология связывает воедино теорию и практику в любых отраслях знаний. Как нельзя обойтись без математики в теоретических расчетах, так нельзя обойтись без измерений при реализации этих расчетов.
В. В. Окрепилов
VI Международный форум «Метрологическое обеспечение инновационных технологий»прошел1 марта 2024 годана базе Санкт-Петербургского государственного университета аэрокосмического приборостроения (ГУАП; точнее,на площадке «Точки кипения – Санкт-Петербург. ГУАП»)и был посвящен 80-летию академика РАН, президента Метрологической академии Российской Федерации доктора экономических наук, профессораВ. В. Окрепилова. Среди участников форума были представители:
- Республики Беларусь: Белорусский национальный технический университет, Полоцкий государственный университет им. Евфросинии Полоцкой;
- Российской Федерации: Отделение общественных наук РАН, научный совет «Региональные проблемы экономики качества» указанного отделения, Институт проблем региональной экономики (ИПРЭ) РАН, Всероссийский НИИ метрологии им. Д. И. Менделеева, кафедра ЮНЕСКО «Управление качеством образования в интересах устойчивого развития» Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого, кафедра ЮНЕСКО «Дистанционное инженерное образование» ГУАП, компания «МС-Метролоджи», компания «Измерительные решения» и др.;
- Республики Казахстан: Казахстанский институт стандартизации и метрологии Комитета технического регулирования и метрологии Министерства торговли и интеграции Республики Казахстан;
- Республики Чили: Высшая школа бизнес-менеджмента;
- Республики Руанда: Cовет по стандартам Руанды;
- Республики Индия: Университет К. Р. Мангалама, компания «Аккурэйт Сейлс энд Сервисес»;
- Китайской Народной Республики: компания «Гуанджонг джинуош текнолоджи».
Перед началом работы форума состоялось торжественное открытие аудитории «Лаборатория искусственного интеллекта и цифровых технологий в метрологии» им. В. В. Окрепилова.
Затем с приветственным словом выступила ректор ГУАП доктор экономических наук, профессор, академик Метрологической академии РФЮлия Анатольевна Антохина. После чего были заслушаны доклады:
- научного руководителя ИПРЭ РАН, заведующего кафедрой метрологического обеспечения инновационных технологий и промышленной безопасности ГУАП, президента Метрологической академии РФ доктора экономических наук, профессора, академика РАНВладимира Валентиновича Окрепилова;
- генерального директора Всероссийского НИИ метрологии им. Д. И. Менделеева, академика Метрологической академии РФАнтона Николаевича Пронина;
- первого проректора Полоцкого государственного университета им. Евфросинии Полоцкой кандидата физико-математических наук, доцентаОксаны Валерьевны Голубевой;
- заместителя декана, директора по международному сотрудничеству Университета К. Р. Мангалама Ph. D.Саурава Диксита;
- члена-корреспондента Метрологической академии РФ, генерального директора Челябинского научно-исследовательского и конструкторского института средств контроля и измерения в машиностроенииИгоря Васильевича Суркова;
- регионального представителя производственной компании «Аккурэйт Сейлс энд Сервисес»Олега Станиславовича Лебеденко.
В рамках форума работали следующие секции, определяющие перспективные направления развития метрологии:
- «Экономика метрологии. Цифровая трансформация в метрологии»;
- «Новые эталоны»;
- «Информационно-измерительные системы в приборостроении и радиоэлектронике»;
- «Образовательные методы подготовки специалистов в области метрологии, стандартизации и управления качеством»;
- «Метрологическое обеспечение вооружения и военной техники»;
- «Стандартизация и управление качеством в машиностроении и приборостроении»;
- «Математическое моделирование и искусственный интеллект в метрологии»;
- молодежная.
На секциях обсуждались фундаментальные, прикладные и законодательные аспекты цифровой метрологии, создания эффективных алгоритмов и самообучающихся программ для метрологического сопровождения оптических измерений на микро- и макроуровнях, пути повышения точности методов и средств измерений с учетом импортозамещения. Докладчики представляли результаты теоретических и прикладных исследований в области обработки сигналов и изображений, оптимизации алгоритмов самообучающихся программ, применяемых в аэрокосмическом приборостроении.
Белорусский национальный технический университет на форуме представляли кандидат технических наук доцент кафедры «Электротехника и электроника»Евгения Николаевна Савковаи кандидат физико-математических наук доцент кафедры «Инженерная математика»Мария Анатольевна Гундина. Они зачитали доклады «Валидационные характеристики в колориметрии цифровых изображений» и «Чувствительность методов исследований в колориметрии цифровых изображений» соответственно в секции «Информационно-измерительные системы в приборостроении и радиоэлектронике».
Доклад Е. Н. Савковой был посвящен актуальным вопросам метрологического обеспечения и сопровождения методов измерения цвета объектов на основе обработки их цифровых изображений в условиях различной степени неопределенности и рисков. В работе были раскрыты новые возможности и проблемы колориметрии цифровых изображений, пути их решения, предложены подходы к валидации и верификации новых качественных и количественных методов оптических исследований. В процессе научной дискуссии были определены перспективы развития колориметрии цифровых изображений.
Для справки:научные исследования выполняются на базе НИЛ полупроводниковой техники НИПИ БНТУ в рамках задания 1.3 «Метрологическое моделирование, сопровождение и подтверждение оптических методов исследований в дискретных системах с произвольным количеством входных и выходных величин» ГПНИ 6 «Фотоника и электроника для инноваций» (подпрограмма «Фотоника и ее применения»).
Российские коллеги из Санкт-Петербургского государственного университета аэрокосмического приборостроения и других организаций проявили заинтересованность в сотрудничестве с Белорусским национальным техническим университетом в области образования и науки. Пути такого сотрудничества в настоящее время обсуждаются.
Автор материала: Евгения Савкова,
кандидат технических наук,
доцент кафедры «Электротехника и электроника»