В 2021 году АО «НИИЭТ» разработал и ввел в эксплуатацию в испытательном центре первые образцы стендов для термоэлектротренировки и испытаний транзисторов под шифром «СИТ».
С помощью данных стендов была успешно реализована задача по организации отбраковки силовых транзисторов для АО «РКС». Это, в частности, позволило заказчику заместить в своей продукции ранее применявшиеся дорогостоящие зарубежные транзисторы на отечественные аналоги – производства АО «НИИЭТ».
Главные преимущества разработанных стендов – применение контактного метода термостатирования с помощью теплоотводящих пластин с жидкостным теплообменом, что обеспечило высокую точность поддержания температуры корпусов компонентов с большим тепловыделением, а также индивидуальный контроль температуры каждого испытываемого компонента.
В настоящее время АО «НИИЭТ», исходя из опыта создания двух стендов для собственных нужд предприятия, предлагает потребителям оформить заказ на изготовление стендов для термоэлектротренировки и испытаний на сохранение работоспособности ЭКБ «СИТ».
По сравнению с уже изготовленными стендами АО «НИИЭТ» улучшил функциональные характеристики оборудования.
Существенно доработан блок управления режимами. Теперь все настройки находятся на сенсорной панели и стала возможной запись настройки для определенного типа исследуемого прибора, после чего все источники питания переводятся на заданный режим. По-прежнему возможна установка разных приборов на один и тот же стенд используя одну из зон. Параметры исследуемого прибора находятся автоматически. Также модернизирована сама конструкция и корпус стенда – появилась возможность закрывать оборудование с обеих сторон, нет никаких выступающих деталей.
Стенд «СИТ» производства АО «НИИЭТ» рассчитан на одновременное испытание 30, 50 и 70 изделий в режимах статической и динамической электрической нагрузки.
Помимо отбраковочных испытаний при изготовлении изделий, стенды «СИТ», благодаря высокой точности и широкому диапазону задания параметров тепловой и электрической нагрузки и возможности контроля температурного режима каждого компонента в отдельности, могут применяться для испытаний опытных образцов вновь разрабатываемых электронных компонентов, определения предельных режимов работы, а также для испытаний компонентной базы для таких областей применения, как автомобильная электроника, медицинская техника, промышленная автоматика и т. п. Стенды могут использоваться для испытаний под нагрузкой не только дискретных компонентов, но и микросхем с повышенным тепловыделением, например усилителей или ИС источников питания.
В настоящее время АО «НИИЭТ» принимает заявки на изготовление стендов испытаний транзисторов и автоматических камер теплового удара.
Источник: АО «НИИЭТ»